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Elektronenmikroskopie

Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Verfasserangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman ; Karen L. Klomparens. Aus d. Amerikan. von Merita Blankenhagel
Medienkennzeichen: Technik
Jahr: 1995
Verlag: Berlin [u.a.], Spektrum Akad. Verl.
Mediengruppe: Sachbücher
verfügbar

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Zweigstelle: Bibliothek Standorte: N 324/95/315 Status: Verfügbar Vorbestellungen: 0 Frist:

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Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Verfasserangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman ; Karen L. Klomparens. Aus d. Amerikan. von Merita Blankenhagel
Jahr: 1995
Verlag: Berlin [u.a.], Spektrum Akad. Verl.
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Systematik: Suche nach dieser Systematik N 324
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ISBN: 3-86025-341-7
Beschreibung: VIII, 279 S. : Ill., graph. Darst.
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Originaltitel: Scanning and transmission electron microscopy <dt.>
Fußnote: Literaturangaben
Mediengruppe: Sachbücher