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Cover von Röntgenfluoreszenzanalyse in der Laborpraxis

Röntgenfluoreszenzanalyse in der Laborpraxis
Verfasser: Haschke, Michael; Flock, Jörg Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Naturwissenschaften
Jahr: 2017
Verlag: Weinheim, Wiley-VCH
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse
mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop ; ein Handbuch für die Praxis
Verfasser: Eggert, Frank Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Werkstoffkunde
Jahr: 2005
Verlag: Norderstedt, Books on Demand GmbH
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Der Sekundärelektronenvervielfacher im experimentellen Physikunterricht

Der Sekundärelektronenvervielfacher im experimentellen Physikunterricht
Verfasser: Lind, Gunter Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 1969
Verlag: Köln, Aulis Verl. Deubner
Reihe: Praxis-Schriftenreihe, Physik; 22
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Raster-Elektronenmikroskopie

Raster-Elektronenmikroskopie
Verfasser: Reimer, Ludwig; Pfefferkorn, Gerhard Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Technik
Jahr: 1977
Verlag: Berlin [u.a.], Springer
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Elektronenmikroskopie

Elektronenmikroskopie

Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser: Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L. Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Technik
Jahr: 1995
Verlag: Berlin [u.a.], Spektrum Akad. Verl.
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen

Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen
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Jahr: 1980
Verlag: Braunschweig [u.a.], Vieweg
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Elektronenmikroskopie

Elektronenmikroskopie

e. Einführung in d. Grundlagen d. Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie u. ihrer Präparationstechniken
Verfasser: Lickfeld, Karl Gerhard Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Technik
Jahr: 1979
Verlag: Stuttgart, Ulmer
Reihe: Uni-Taschenbücher; 965
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Feinstrukturuntersuchungen in der Werkstoffkunde

Feinstrukturuntersuchungen in der Werkstoffkunde

e. Einführung in d. Beugungsverfahren
Verfasser: Stüwe, Hein Peter; Vibrans, Gerwig Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 1974
Verlag: Mannheim [u.a.], Bibliogr. Inst.
Reihe: B.I.-Hochschultaschenbücher; 467
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse

Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse

Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen u. Mineralogen im 2. Studienabschnitt
Verfasser: Krischner, Harald Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 1980
Verlag: Braunschweig [u.a.], Vieweg
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Das Elektronenmikroskop TEM + REM

Das Elektronenmikroskop TEM + REM

Leitfaden für Biologen u. Mediziner
Verfasser: Lange, Rainer H.; Blödorn, Jochen Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Technik
Jahr: 1981
Verlag: Stuttgart [u.a.], Thieme
Mediengruppe: Sachbücher
OPEN V 11.0.0.0