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Cover von Sehen heißt wissen
d. Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor
Verfasser: Eckert, Richard Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 1998
Verlag: Stuttgart, [Selbst-Verl.]
Mediengruppe: Sachbücher
Cover von Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse
mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop ; ein Handbuch für die Praxis
Verfasser: Eggert, Frank Suche nach diesem Verfasser
Medienkennzeichen: Werkstoffkunde
Jahr: 2005
Verlag: Norderstedt, Books on Demand GmbH
Mediengruppe: Sachbücher
OPEN V 11.0.0.0